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    掃描俄歇微探針（SAM）
    

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發布日期：2013-05-30

    

    核心提示：掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：　　（1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；　　（2）可進行深度
    

    

     掃描俄歇微探針（SAM）；

     基本功能：
    

    　　（1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；
    

    　　（2）可進行深度分析；
    

    　　（3）化學價態研究
    

     用途：
    
納米薄膜材料，微電子材料的表 面和界面研究及摩擦化學研究。
    

    
        
    編輯：songjiajie2010
    
  
    

    

     
    

    




    
        
    

    

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關鍵詞：
化學價態

    

    
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